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製品紹介

薄膜測温抵抗体素子 CRZ

最新技術を駆使して開発された薄膜測温抵抗体素子CRZ

  • 全ての素子は抵抗値検査が行われ、個々に抵抗値が表記されます。
  • 最先端の薄膜作成技術やフォトリソグラフィ技術、大量生産システムにより高品質な抵抗素子が安価に提供できます。
  • 小型化の実現により応答速度に優れています。
  • クラスA, Bに加え、より高精度のクラス1/3Bと、より安価なクラス2Bの提供もしています。
  • 高温でも安定性に優れています。
  • 薄膜と基板が一体である事で、巻線素子に比べ耐振動性、耐衝撃性が優れています。
  • Pt100Ωに加え、精密測定に最適な高抵抗仕様(Pt500Ω,Pt1000Ω)もご提供可能です。
  • 抵抗値の許容差はJISとIEC(International Electrotechnical Commission)に準拠しています。
  • 欧州RoHS指令に準拠しています。

構造

薄膜測温抵抗体素子 CRZ

モデル 素子サイズ(mm)
【幅×長さ×高さ】
素子数 抵抗値 規定電流 リード寸法(mm)
【幅×厚さ×長さ】
クラス 使用温度範囲
CRZ-1632-100 1.6×3.2×1.0 シングル Pt 100 Ω 1mA以下 0.25×0.15×12 1/3B
A
B
2B
・クラス1/3B
-20 ~ +150℃ ・クラスA
-40 ~ +300℃ ・クラスB,2B
-70 ~ +400℃
CRZ-2005-100 2.0×5.0×1.0
CRZ-2005-500 2.0×5.0×1.0 Pt 500 Ω 0.5mA以下
CRZ-2005-1000 2.0×5.0×1.1 Pt 1000Ω

許容差と温度係数

クラス名 許容差(℃) 0℃における抵抗許容差 温度係数(Ω / Ω)
1/3B ±(0.1+0.0017ltl) ±0.04Ω 0.003851±0.000004
A ±(0.15+0.002ltl) ±0.06Ω 0.003851±0.000005
B ±(0.3+0.005ltl) ±0.012Ω 0.003851±0.000012
2B ±(0.6+0.01ltl) ±0.025Ω 0.003851±0.000024

試験データ

項目 試験条件 特性値
安定性 常温 1000 時間 0℃における抵抗値変化は ±0.02℃以内
耐高温性 200℃, 1000 時間
0℃における抵抗値変化は±0.05℃ (200℃)以内
400℃, 1000 時間 0℃における抵抗値変化は ±0.10℃ (400℃)以内
耐振動性 剛性のある取付具に固定し
以下の振動条件を印加する

周波数範囲:10Hz~150Hz
加速度:20m/s2
挿引サイクル:10回
0℃における抵抗値変化は±0.05℃ (200℃)以内

応答速度(時定数63.2%)/sec

モデル 静止空気中 撹拌水中
CRZ-1632-100 4.3 0.3
CRZ-2005-100,500,1000 4.8 0.3

自己加熱特性

モデル 環境条件 自己加熱量/℃
0.1mA 0.5mA 1mA (2mA)*
CRZ-1632-100 静止空気中・MgO充填なし   0.03 0.13 0.52
静止空気中・MgO充填   0.01 0.03 0.11
CRZ-2005-100 静止空気中・MgO充填なし   0.03 0.12 0.49
静止空気中・MgO充填   0.01 0.02 0.09
CRZ-2005-1000 静止空気中・MgO充填なし 0.01 0.28 1.13 4.51
静止空気中・MgO充填 0.00 0.05 0.19 0.76

*Pt100Ωは1mA、Pt500Ω、Pt1000Ωは0.5mAを超える電流は規定外になります。

測定方法は以下になります
MgO充填なし・・・φ12×t1の金属保護管に素子が触れないように挿入し測定
MgO充填・・・・・・・φ8×t1の金属保護管に素子を挿入し、酸化マグネシウム粉を保護管に充填し測定

測温抵抗体Pt100の規準抵抗値


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